4kVタイプ ついに登場! 半導体リレーで2kV以上の試験が実現

スイッチングデバイスの接点間の放電、電子モーターから発生するアーク放電などによる立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生し、電子機器の耐性を評価する試験器です。
発生する試験パルスには広帯域の周波数成分が含まれ、パルス幅の可変によりエネルギー量を変化させる事が
出来る為、ノイズトラブルに対して、再現性の高い試験が行えます。

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インパルスノイズ試験器(半導体リレー方式) INS-S420

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